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                濱松將于第二屆質譜儀器研發論壇發布最新質譜用探測技術動向

                儀器信息網 2019/09/29 15:55:01 點擊 311 次
                [導讀] 濱松將于第二屆質譜儀器研發論壇發布最新質譜用探測技術動向

                第二屆質譜儀器研發論壇將于2019年10月10日-12日在江蘇昆山舉辦,本屆會議由中國儀器儀表學會分析儀器分會質譜儀器學術組主辦,分析測試百科網協辦,昆山禾信質譜技術有限公司承辦。屆時將有眾多質譜研發領域資深專家與會,共同討論質譜核心技術的創新開發及應用問題。


                濱松中國將出席本次會議,并發表“質譜探測新技術,為質譜儀研發帶來更多可能”的報告(10月11日,15:45-16:00)。報告將介紹本年ASMS中發布的濱松應用于質譜分析儀器的探測技術動向,以及產品升級和最新應用信息,其中包括了高氣壓下(達1Pa)仍可高增益正常工作的柵網陽極結構MCP、大幅縮短TOF-MS(MALDI)前處理時間的無基質輔助電離基板(DIUTHAME)、復合雪崩二極管結構的MCP、通道式電子倍增器(CEM)。


                濱松擁有65年光電探測器的研制經驗,享譽世界,在質譜用探測器技術的耕耘也已有40年的歷史,可為質譜提供離子化光源、電子倍增器(EM)、微通道板(MCP)等產品。此次會議,濱松將在現場進行包括新品在內的多類系列產品的展示,歡迎屆時蒞臨展位參觀與交流。


                質譜新品.png

                [來源:濱松中國]  
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